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精度可代替進口產(chǎn)品的Beamfiler光斑質(zhì)量分析儀
材料來源:光電資訊           錄入時間:2021/3/16 23:59:07

光研科技自主研發(fā)的光斑分析儀Beamfiler可實現(xiàn)激光光斑檢測及測試應(yīng)用。為客戶提供定制光束質(zhì)量分析一體化設(shè)計解決方案,并支持多應(yīng)用開發(fā)。產(chǎn)品精度可以完全代替進口激光光束質(zhì)量分析儀。

通過光束分析裝置一體化設(shè)計,配套衰減方案設(shè)計,最小可測量直徑40μm光斑,支持實時曝光及增益調(diào)節(jié)。

該系統(tǒng)可以對連續(xù)可見激光光斑進行采樣,分析得到激光光斑中心,半徑,橢圓比等,并對光強能量場進行二維和三維顯示?蓮V泛用于需要對激光光斑形狀進行檢測得場合,如激光生產(chǎn),維護以及激光應(yīng)用。也常用于光學(xué)器件質(zhì)量檢查,激光腔鏡調(diào)整,外光路準直,光纖對準耦合分析等。

自光研科技推出自研產(chǎn)品Beamfiler光斑質(zhì)量分析儀以來,已得到了國內(nèi)多家企業(yè)和科研院所的測試和使用?紤]到光斑質(zhì)量分析儀需求量巨大且國外產(chǎn)品價格高昂,光研科技已正式開展光束質(zhì)量分析儀定制化服務(wù)。目前已作為成熟產(chǎn)品在市場推廣,性價比很高,得到大量客戶認同。

光研科技給客戶做的每個測試都會根據(jù)的具體需求做出最合理的解決方案,并盡可能提供相應(yīng)的公式或者依據(jù)。光研科技立志為更多的光學(xué)企業(yè)提供更優(yōu)質(zhì)的光束質(zhì)量分析系統(tǒng)!


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