Santec對 Swept Test System有著嚴(yán)格的測試標(biāo)準(zhǔn)，利用以高分辨率和高精度為標(biāo)準(zhǔn)的高速分析測試解決方案，結(jié)合Santec的TSL系列可調(diào)諧激光器、多通道光功率計（MPM-210）、偏振控制器（PCU-100）和自定義軟件相組合，通過實(shí)時記錄可以同時獲取可調(diào)激光器的輸出功率與經(jīng)過DUT的傳輸功率，從而精確計算出WDL/PDL的數(shù)值。采用Mueller矩陣生成快速的PDL測量方案，通過采樣和縮放算法在保持測試方案完整性上可以保持最大測試性能輸出，尤其適合測量波分復(fù)用(WDM)濾波器、光開關(guān)、AWG、耦合器等無源光學(xué)元器件。