致茂電子Chroma 藉由多年在光電測(cè)試領(lǐng)域與自動(dòng)化設(shè)計(jì)等經(jīng)驗(yàn)，針對(duì)激光業(yè)界普遍無法在芯片端Chip on Submount 進(jìn)行特性檢測(cè)與燒機(jī)測(cè)試等提出嶄新的自動(dòng)化激光芯片測(cè)試解決方案。

[致茂激光二極管自動(dòng)化測(cè)試解決方案]

 激光二極管特性測(cè)試機(jī) (Model 58620)

 致茂電子所推出的激光二極管特性測(cè)試機(jī)為一全新概念機(jī)種，專為激光半導(dǎo)體(Laser Diode)所打造設(shè)計(jì)，搭配自動(dòng)化特性檢測(cè)All-In-One設(shè)計(jì)概念，可供不同的測(cè)試項(xiàng)目同時(shí)進(jìn)行檢測(cè)；搭配高容量的載具設(shè)計(jì)，可供多顆激光芯片(Chip level)進(jìn)行大量測(cè)試；另外藉由光學(xué)定位輔助(AOI) ，可提升自動(dòng)化檢測(cè)的速度與可靠性；高穩(wěn)定性的溫控平臺(tái)設(shè)計(jì)，可讓研發(fā)人員精確地了解激光半導(dǎo)體特性與溫度的關(guān)系。

 高精密共享載具:

 主要應(yīng)用于邊射型Edge-Emission激光使用(包括CoC，CoS，Laser-bar等)，載具的設(shè)計(jì)為因應(yīng)大量測(cè)試，制作為雙邊對(duì)稱結(jié)構(gòu)，最多可放置80顆待測(cè)物，特殊的多層次載具專利設(shè)計(jì)可讓激光半導(dǎo)體不互相干涉并可靠的與探針結(jié)合進(jìn)行測(cè)試。傳統(tǒng)在激光半導(dǎo)體前段測(cè)試過程中，需經(jīng)過多次的燒機(jī)測(cè)試(Burn-In)與特性檢測(cè)制程(characterization)，在更換載具的過程中常會(huì)損壞待測(cè)物減低良率，共享載具的好處可讓研操作員只需要在第一次將激光半導(dǎo)體放置于載具中，即可在不接觸待測(cè)物之下完成所有必要的檢測(cè)，此設(shè)計(jì)亦可搭配Chroma 58601燒機(jī)測(cè)試機(jī)。

 自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)與光學(xué)輔助定位:

 利用光學(xué)輔助定位的原理(AOI)使得Focuser快速達(dá)到激光發(fā)光區(qū)(Emission Region)并進(jìn)行搜尋最大發(fā)射功率點(diǎn)可加速測(cè)試，大幅減低光纖耦合調(diào)校時(shí)間與測(cè)試人力。

 高精準(zhǔn)度溫控平臺(tái):

 激光二極管依據(jù)物理特性會(huì)強(qiáng)烈受到外在溫度影響改變光譜與電性特性，因此在設(shè)計(jì)上加入了溫控平臺(tái)的設(shè)計(jì)并搭配Chroma 54130 的高精準(zhǔn)度TEC溫度控制器與51101溫度紀(jì)錄器，可確保載具的溫度特性與均溫性。平臺(tái)溫度上平均分布四組溫度傳感器加上中心點(diǎn)的溫度控制器的回復(fù)點(diǎn)使得溫控平臺(tái)達(dá)到良好均，以及極佳的穩(wěn)定性。

 彈性化PXI測(cè)試平臺(tái):

 致茂PXI解決方案具有開放式平，靈活性與快速整合能力。 搭配致茂獨(dú)家設(shè)計(jì)的高精準(zhǔn)雙信道電源-量測(cè)單元(SMU) 52400 系列，可提供四象限(4Q)電流電壓源與量測(cè)功能，日后客戶可依照不同功率的需求搭配不同的SMU，提供激光半導(dǎo)體完整的電性量測(cè)。 致茂光功率計(jì)52961(optical power meter)，藉由搭配不同的波段光檢知器，可提供大范圍的光譜量測(cè)與寬動(dòng)態(tài)量測(cè)范圍(80db)，可完整提供不同功率與發(fā)光特性的激光半導(dǎo)體使用。

 整合以上多種功能的自動(dòng)化激光芯片檢測(cè)系統(tǒng)將是一套全新并可有效降低人工的優(yōu)質(zhì)設(shè)備，也將會(huì)是您有效提高機(jī)光二極管測(cè)試產(chǎn)出率的最佳選擇。

 如需更進(jìn)一步的產(chǎn)品信息，請(qǐng)至Chroma 官網(wǎng)查詢 www.chroma.com.cn